Microscope MET JEM-2100Plus
Ce microscope a été acquis en partenariat avec le laboratoire ICMMO de l'université Paris-Saclay.
Fonctionnalités
- Modes sonde (STEM) et conventionnel (TEM).
- Spectroscopie par dispersion des rayons X (EDXS).
Caractéristiques techniques
- Canon avec filament LaB6.
- Haute tension HT = 200 kV.
- Caméra CCD CMOS RIO 16 4k, 160 images/s à 1k (Gatan).
- Détecteur EDX SAMs IDFix.
Porte-objet
- Simple tilt (JEOL).
- Simple tilt en béryllium permettant l'analyse EDXS (JEOL).
- Simple tilt 4-positions (JEOL).
- Double tilt (JEOL).
Contact

Experimentation and development center
Maxime VALLET
Ingénieur de recherche
Responsable du pôle Microscopie Electronique et rayons X

Experimentation and development center
Lamine DIAO
Ingénieur d'études