Microscope GéminiSEM 560
Caractéristiques techniques
- Canon à émission de champ (FEG) ;
- Colonne électronique fonctionnant de 20 V à 30 kV avec un courant allant de 6 pA à 100 nA ;
- Mode imagerie en haute résolution permettant une résolution de 0,8 nm à 1 kV et jusqu’à 0,5 nm à 30 kV sans polarisation d’échantillon ou en mode immersion dans un champ magnétique ;
- Mode : Haut vide, VP standard, Module nano VP (jusqu’à 500 Pa) ;
- 6 détecteurs pour l’imagerie électronique : in-lens SE, in-lens EsB, Everhart-Thornley SE2, aBSD4 (e- rétrodiffusés HV et VP standard), C2D (e- secondaires en VP/nano VP), aBSD1 (e- rétrodiffusés nano VP) ;
- Analyse cristallographique (EBSD) ;
- Analyse chimique (EDS).
- Équipements principaux pour la caractérisation cristallographique et chimique :
- Caméra EBSD EDAX Velocity Plus (jusqu’à 3000 pts/sec) ;
- Détecteur EDS EDAX Octane Elect Super 70 mm² ;
- Logiciel APEX pour l’acquisition
- EDAX OIM Matrix Software pour l’analyse.
- Platines additionnelles : Platine de traction Kammrath avec montage adapté pour analyse EBSD
Contacts

Centre d'expérimentation et de développement
Marc BONNET
Ingénieur d'études

Centre d'expérimentation et de développement
Thomas REISS
Ingénieur d'études

Centre d'expérimentation et de développement, Equipe COMMET
Louis CORNET
Ingénieur de recherche